溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩(wěn)定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數(shù)量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數(shù)量4(可增加)
探針材質(zhì)紫銅鍍金
測(cè)試通道4
載樣臺(tái)材質(zhì)及尺寸銀質(zhì),35*35mm(以實(shí)際尺寸為準(zhǔn))
冷熱臺(tái)尺寸160*150*29mm(以實(shí)際尺寸為準(zhǔn))
實(shí)驗(yàn)環(huán)境可抽真空,可充入保護(hù)氣氛(氮?dú)猓渌浣涌?/span>
真空探針臺(tái)(Vacuum Probe Station)是一種用于半導(dǎo)體材料和器件測(cè)試的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。它在高真空環(huán)境下操作,可以有效降低外部污染和氧化,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。真空探針臺(tái)通常配備有多組針頭探針,用于電氣測(cè)試、信號(hào)傳輸和表面分析等。
真空探針臺(tái)的主要應(yīng)用包括:
1. **半導(dǎo)體器件測(cè)試**:用于測(cè)試晶體管、二極管、集成電路等器件的電性能。
2. **材料研究**:可用于研究新型半導(dǎo)體材料、納米材料等的特性。
3. **微納米技術(shù)**:在微米和納米尺度上進(jìn)行電學(xué)、光學(xué)等性能測(cè)試。
4. **失效率分析**:通過(guò)在真空環(huán)境中測(cè)試,分析器件的失效率和可靠性。
真空探針臺(tái)的工作原理是將樣品放置在真空環(huán)境中,通過(guò)探針直接接觸樣品的電極進(jìn)行測(cè)量。通常配備有精密的定位系統(tǒng),以保證探針與樣品的準(zhǔn)確接觸。
在使用真空探針臺(tái)時(shí),操作人員需要對(duì)設(shè)備進(jìn)行良好的維護(hù)和校準(zhǔn),以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
高低溫真空探針臺(tái)是一種用于材料和半導(dǎo)體器件測(cè)試的設(shè)備,能夠在極端溫度和真空環(huán)境下進(jìn)行電氣特性測(cè)量。其主要功能包括:
1. **溫度控制**:能夠在廣泛的溫度范圍內(nèi)(通常從低于零度到幾百度攝氏)控制樣品的溫度,便于研究材料在不同溫度下的性能變化。
2. **真空環(huán)境**:提供低壓真空環(huán)境,以減少氣體分子對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,尤其是在材料表面或界面反應(yīng)的研究中。
3. **電氣測(cè)試**:可以連接測(cè)試儀器(如示波器、源測(cè)量單元等)進(jìn)行電流、電壓等電學(xué)特性的測(cè)量。
4. **多種探針配置**:可以靈活配置探針的數(shù)量和類型,以適應(yīng)不同的實(shí)驗(yàn)需求,如單點(diǎn)探測(cè)或多點(diǎn)測(cè)量。
5. **樣品放置**:支持多種類型的樣品放置方式,如晶圓、薄膜、納米結(jié)構(gòu)等,以開(kāi)展多樣化的實(shí)驗(yàn)。
6. **數(shù)據(jù)采集與分析**:配合相關(guān)軟件,可以進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集和后續(xù)分析,幫助科研人員深入理解材料性能。
高低溫真空探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、物理、材料科學(xué)等領(lǐng)域的研究和開(kāi)發(fā)中,尤其是在新材料的開(kāi)發(fā)和半導(dǎo)體器件的性能測(cè)試方面具有重要意義。

真空探針臺(tái)是一種用于微電子和材料科學(xué)領(lǐng)域的高精度測(cè)試設(shè)備,主要用于對(duì)半導(dǎo)體wafer、材料樣品的電氣特性進(jìn)行測(cè)量。其特點(diǎn)主要包括:
1. **高真空環(huán)境**:真空探針臺(tái)能夠在高真空條件下工作,減少氣體分子對(duì)測(cè)試過(guò)程的干擾,提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
2. **高精度定位**:該設(shè)備通常配備高精度的定位系統(tǒng),可以對(duì)準(zhǔn)探針與樣品的接觸點(diǎn),確保測(cè)量的準(zhǔn)確性。
3. **多樣化探針選擇**:真空探針臺(tái)支持多種類型的探針,可根據(jù)不同的實(shí)驗(yàn)需求進(jìn)行更換,適應(yīng)不同的測(cè)試任務(wù)。
4. **溫度控制功能**:許多真空探針臺(tái)配備了溫度控制系統(tǒng),能夠在特定溫度下進(jìn)行測(cè)量,對(duì)于研究材料的溫度依賴特性尤為重要。
5. **高靈敏度測(cè)量**:在真空條件下,探針臺(tái)能夠進(jìn)行更高靈敏度的電氣測(cè)量,適合于低信號(hào)的測(cè)量任務(wù)。
6. **兼容性強(qiáng)**:真空探針臺(tái)通??梢耘c多種測(cè)試設(shè)備協(xié)同使用,如網(wǎng)絡(luò)分析儀、示波器等,滿足多種測(cè)試需求。
7. **自動(dòng)化程度**:現(xiàn)代真空探針臺(tái)往往具備自動(dòng)化控制系統(tǒng),能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)對(duì)焦、掃描和數(shù)據(jù)采集,提高實(shí)驗(yàn)效率。
8. **適用范圍廣泛**:真空探針臺(tái)不僅可用于半導(dǎo)體行業(yè),還可廣泛應(yīng)用于材料測(cè)試、納米技術(shù)、生物傳感器等多個(gè)領(lǐng)域。
總體而言,真空探針臺(tái)是進(jìn)行精細(xì)化電氣測(cè)試的重要工具,其特性使其在科研和工業(yè)應(yīng)用中具有的地位。

探針座位移平臺(tái)是一種用于電子測(cè)試和測(cè)量的設(shè)備,主要功能包括:
1. **定位**:能夠地移動(dòng)探針到*的測(cè)試點(diǎn),確保測(cè)量的準(zhǔn)確性。
2. **多軸控制**:通常具有多個(gè)自由度(如X、Y、Z軸),可以在三維空間中靈活移動(dòng),以適應(yīng)不同尺寸和布局的測(cè)試樣品。
3. **自動(dòng)化測(cè)試**:支持自動(dòng)化操作,提高測(cè)試效率,減少人為誤差。
4. **掃描功能**:可以進(jìn)行掃描操作,逐點(diǎn)測(cè)量,以獲取樣品的電性能數(shù)據(jù)。
5. **與測(cè)試儀器集成**:可與測(cè)試儀器(如示波器、LCR表等)連接,進(jìn)行綜合測(cè)試與數(shù)據(jù)分析。
6. **數(shù)據(jù)記錄與分析**:記錄測(cè)試過(guò)程中的數(shù)據(jù),并可進(jìn)行后續(xù)分析,以便于評(píng)估樣品性能。
7. **靈活適應(yīng)性**:可根據(jù)不同的測(cè)試需求和樣品特性,調(diào)整探針的位置和壓力,以確保接觸。
探針座位移平臺(tái)在半導(dǎo)體、微電子、材料科學(xué)等領(lǐng)域的測(cè)試和研究中具有重要的應(yīng)用價(jià)值。

光學(xué)探針臺(tái)是一種高精度的實(shí)驗(yàn)設(shè)備,主要用于表征材料的光學(xué)性能和研究微觀結(jié)構(gòu)。以下是光學(xué)探針臺(tái)的主要特點(diǎn):
1. **高精度定位**:光學(xué)探針臺(tái)通常具備高精度的運(yùn)動(dòng)系統(tǒng),能夠在微米或納米級(jí)別上進(jìn)行樣品定位,以確保實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
2. **多功能性**:很多光學(xué)探針臺(tái)可以支持多種測(cè)量方法,如反射、透射、熒光及拉曼光譜等,適用于不同的研究需求。
3. **環(huán)境控制**:有些光學(xué)探針臺(tái)配備有溫度、濕度、氣氛等環(huán)境控制系統(tǒng),能夠在特定條件下進(jìn)行實(shí)驗(yàn),適應(yīng)不同材料的測(cè)試要求。
4. **光學(xué)元件的集成**:探針臺(tái)通常集成有高性能的光學(xué)元件,如透鏡、濾光片和光源等,以提高光學(xué)測(cè)量的靈敏度和信噪比。
5. **圖像采集與分析**:許多光學(xué)探針臺(tái)具有圖像采集功能,可以實(shí)時(shí)觀察樣品表面、形貌及其他特征,并與測(cè)量數(shù)據(jù)結(jié)合進(jìn)行分析。
6. **模塊化設(shè)計(jì)**:一些探針臺(tái)是模塊化的,可以根據(jù)實(shí)驗(yàn)需要進(jìn)行升級(jí)和擴(kuò)展,適應(yīng)不同的研究需求。
7. **用戶友好的操作界面**:現(xiàn)代的光學(xué)探針臺(tái)通常配備友好的軟件界面,使得用戶可以輕松設(shè)置實(shí)驗(yàn)參數(shù),進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和分析。
8. **適用性廣**:廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域,在基礎(chǔ)研究和工業(yè)應(yīng)用中都具有重要價(jià)值。
光學(xué)探針臺(tái)因其高度和多功能性,被廣泛用于科研與工業(yè)領(lǐng)域的光學(xué)測(cè)量與分析任務(wù)。
微型高低溫真空探針臺(tái)主要用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體器件、納米技術(shù)等領(lǐng)域的研究和測(cè)試,其適用范圍包括但不限于以下幾個(gè)方面:
1. **半導(dǎo)體器件測(cè)試**:用于測(cè)量半導(dǎo)體材料和器件在高低溫環(huán)境下的電學(xué)性質(zhì)。
2. **材料分析**:能夠分析不同材料在極端溫度和真空條件下的性能變化,例如導(dǎo)電性、熱導(dǎo)性等。
3. **納米材料研究**:用于研究納米材料在不同溫度和環(huán)境下的行為,適合納米電子學(xué)研究。
4. **物理和化學(xué)實(shí)驗(yàn)**:在物理和化學(xué)實(shí)驗(yàn)中,對(duì)樣品進(jìn)行高低溫和真空下的測(cè)試和觀察。
5. **生物材料測(cè)試**:能夠測(cè)試生物材料在極端環(huán)境下的穩(wěn)定性和性能變化。
6. **儀器研發(fā)**:在新型儀器和設(shè)備研發(fā)過(guò)程中,對(duì)材料的性能進(jìn)行高低溫測(cè)試。
綜上所述,微型高低溫真空探針臺(tái)是一種多功能的實(shí)驗(yàn)設(shè)備,適用于多種研究領(lǐng)域,特別是在要求控制溫度和氣氛條件的實(shí)驗(yàn)中顯得尤為重要。
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