溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩(wěn)定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數(shù)量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數(shù)量4(可增加)
探針材質(zhì)紫銅鍍金
測試通道4
載樣臺材質(zhì)及尺寸銀質(zhì),35*35mm(以實際尺寸為準(zhǔn))
冷熱臺尺寸160*150*29mm(以實際尺寸為準(zhǔn))
實驗環(huán)境可抽真空,可充入保護氣氛(氮氣),配水冷接口
探針臺(Probing Station)是一種用于半導(dǎo)體測試和測量的設(shè)備,主要用于對集成電路(IC)進行電氣測試。它允許工程師在開發(fā)和生產(chǎn)過程中評估電路的性能,確定是否滿足設(shè)計規(guī)格。探針臺通常配備高度的探針,可以在微小的封裝上進行接觸,以測量電流、電壓和其他電氣特性。
探針臺的主要特點包括:
1. **高精度定位**:能夠定位到納米級別,以確保探針能準(zhǔn)確接觸到芯片上的測試點。
2. **可調(diào)操作溫度**:有些探針臺設(shè)計可以在不同的溫度條件下進行測試,以模擬不同的工作環(huán)境。
3. **自動化與手動操作**:現(xiàn)代探針臺通常集成了自動化系統(tǒng),能夠提高測試效率,減少人為錯誤。
4. **多探針設(shè)計**:可以同時使用多個探針進行測試,從而加快測試速度并提高測試覆蓋率。
探針臺廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的研發(fā)、生產(chǎn)測試以及質(zhì)量控制等環(huán)節(jié)。
探針夾具是一種用于電子測試和信號測量的設(shè)備,它的主要功能包括:
1. **信號接觸**:探針夾具可以地與電路板上的測試點接觸,從而獲取信號或電源。這對于電路功能測試和調(diào)試至關(guān)重要。
2. **高精度定位**:探針夾具通常具有高精度的定位功能,可以確保探針準(zhǔn)確接觸到*的測試點,提高測試的可靠性和準(zhǔn)確性。
3. **自動化測試**:隨著自動化測試技術(shù)的發(fā)展,探針夾具常常與自動測試設(shè)備(ATE)配合使用,實現(xiàn)的自動化測試,提高測試效率和一致性。
4. **適應(yīng)性強**:探針夾具通常設(shè)計為可以適應(yīng)不同規(guī)格的PCB(印刷電路板),支持多種類型的測試點,如焊盤、引腳等。
5. **減少干擾**:良好的探針夾具設(shè)計可以減少在測試過程中可能引入的干擾,提高測量的準(zhǔn)確性。
6. **多通道測試**:一些的探針夾具可以支持多通道同時測試,提高測試的效率,特別是在批量生產(chǎn)測試中具有明顯的優(yōu)勢。
總的來說,探針夾具在電子產(chǎn)品的研發(fā)、測試和生產(chǎn)過程中起到了重要的作用,能夠有效提高測試的效率和準(zhǔn)確性。

探針臺(Probe Station)是一種用于測試和分析微電子器件(如集成電路、傳感器等)的設(shè)備。其主要特點包括:
1. **高精度定位**:探針臺能夠定位待測樣品,通常配備精密機械手臂和高分辨率的光學(xué)顯微鏡。
2. **多樣化探針**:探針臺配備多種探針,可以用于不同類型的測試,如直流、交流或測試。
3. **溫控能力**:許多探針臺具備溫度控制功能,可以在極低或極高的溫度條件下進行測試,以模擬實際工作環(huán)境。
4. **可擴展性**:探針臺通常可以與其他測試設(shè)備(如示波器、信號發(fā)生器)進行連接,實現(xiàn)更復(fù)雜的測試方案。
5. **軟件控制**:現(xiàn)代探針臺配備了計算機控制系統(tǒng),可以通過軟件進行操作,實時收集和分析測試數(shù)據(jù)。
6. **兼容性**:探針臺可以處理多種尺寸和形狀的樣品,包括晶圓、芯片和其他微電子器件。
7. **環(huán)境監(jiān)控**:一些探針臺具有氣候控制系統(tǒng),可以在潔凈室或受控環(huán)境中進行測試,確保測試結(jié)果的可靠性。
這些特點使得探針臺在半導(dǎo)體開發(fā)、質(zhì)量控制和研究等領(lǐng)域中扮演著重要角色。

探針座位移平臺是一種用于精密測試和測量的設(shè)備,常用于半導(dǎo)體、光電子和精密制造等領(lǐng)域。其主要特點包括:
1. **高精度**:探針座位移平臺能夠在微米甚至納米級別進行高精度的位置控制,以確保測量的準(zhǔn)確性。
2. **多軸運動**:許多探針座位移平臺設(shè)計為多軸系統(tǒng),能夠?qū)崿F(xiàn)X、Y、Z三個維度的立移動,以適應(yīng)復(fù)雜的測量需求。
3. **穩(wěn)定性**:平臺結(jié)構(gòu)通常經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計,以提供高度的機械穩(wěn)定性,減少外部震動對測量結(jié)果的影響。
4. **自動化控制**:現(xiàn)代探針座位移平臺通常配備計算機控制系統(tǒng),支持自動化操作和數(shù)據(jù)采集,提高工作效率。
5. **兼容性強**:探針座可以與多種探針、傳感器和測量設(shè)備相結(jié)合,提供靈活的應(yīng)用方案。
6. **快速響應(yīng)**:的驅(qū)動系統(tǒng)使得平臺能夠快速響應(yīng)控制指令,實現(xiàn)快速定位和測量。
7. **易于操作**:許多平臺設(shè)有用戶友好的界面,使操作人員能夠輕松進行設(shè)置和調(diào)整。
8. **可調(diào)節(jié)性**:探針座位移平臺通常允許用戶根據(jù)特定需求來調(diào)整工作參數(shù),例如探針的接觸力、移動速度等。
這些特點使得探針座位移平臺在電子元器件測試、材料分析和微型裝配等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。

光學(xué)探針臺是一種高精度的實驗設(shè)備,主要用于表征材料的光學(xué)性能和研究微觀結(jié)構(gòu)。以下是光學(xué)探針臺的主要特點:
1. **高精度定位**:光學(xué)探針臺通常具備高精度的運動系統(tǒng),能夠在微米或納米級別上進行樣品定位,以確保實驗結(jié)果的準(zhǔn)確性。
2. **多功能性**:很多光學(xué)探針臺可以支持多種測量方法,如反射、透射、熒光及拉曼光譜等,適用于不同的研究需求。
3. **環(huán)境控制**:有些光學(xué)探針臺配備有溫度、濕度、氣氛等環(huán)境控制系統(tǒng),能夠在特定條件下進行實驗,適應(yīng)不同材料的測試要求。
4. **光學(xué)元件的集成**:探針臺通常集成有高性能的光學(xué)元件,如透鏡、濾光片和光源等,以提高光學(xué)測量的靈敏度和信噪比。
5. **圖像采集與分析**:許多光學(xué)探針臺具有圖像采集功能,可以實時觀察樣品表面、形貌及其他特征,并與測量數(shù)據(jù)結(jié)合進行分析。
6. **模塊化設(shè)計**:一些探針臺是模塊化的,可以根據(jù)實驗需要進行升級和擴展,適應(yīng)不同的研究需求。
7. **用戶友好的操作界面**:現(xiàn)代的光學(xué)探針臺通常配備友好的軟件界面,使得用戶可以輕松設(shè)置實驗參數(shù),進行數(shù)據(jù)采集和分析。
8. **適用性廣**:廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域,在基礎(chǔ)研究和工業(yè)應(yīng)用中都具有重要價值。
光學(xué)探針臺因其高度和多功能性,被廣泛用于科研與工業(yè)領(lǐng)域的光學(xué)測量與分析任務(wù)。
探針臺是一種廣泛應(yīng)用于微電子、半導(dǎo)體和材料科學(xué)等領(lǐng)域的測試設(shè)備。其適用范圍主要包括以下幾個方面:
1. **半導(dǎo)體測試**:探針臺用于對半導(dǎo)體器件進行電性能測試,如晶體管、二極管、集成電路等。
2. **材料分析**:可以用于測試和分析材料的電學(xué)、熱學(xué)和光學(xué)特性,特別是在材料研發(fā)階段。
3. **微納米技術(shù)**:探針臺在微納米器件的制造和測試中扮演著重要角色,用于研究和開發(fā)微機電系統(tǒng)(MEMS)和納米技術(shù)相關(guān)產(chǎn)品。
4. **研發(fā)與生產(chǎn)測試**:在產(chǎn)品研發(fā)階段和生產(chǎn)線上,探針臺可以快速地對產(chǎn)品進行測試和驗證,確保其性能指標(biāo)符合設(shè)計要求。
5. **故障分析**:在電路故障分析中,通過探針臺可以定位問題部件,進行電氣測試和故障排查。
6. **教學(xué)與科研**:在高校和研究機構(gòu),探針臺常用于實驗教學(xué)和科研項目,為學(xué)生和研究人員提供實踐機會。
總之,探針臺是一個多功能、高精度的測試平臺,適用于多個領(lǐng)域的研究與應(yīng)用。
http://www.600pd.com