溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩(wěn)定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數(shù)量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數(shù)量4(可增加)
探針材質(zhì)紫銅鍍金
測試通道4
載樣臺材質(zhì)及尺寸銀質(zhì),35*35mm(以實際尺寸為準)
冷熱臺尺寸160*150*29mm(以實際尺寸為準)
實驗環(huán)境可抽真空,可充入保護氣氛(氮氣),配水冷接口
探針座位移平臺是一種用于半導體、電子元件以及微機電系統(tǒng)(MEMS)等領域的精密測試和測量設備。它的主要功能是通過移動探針在樣品表面進行高精度的接觸和測試。以下是探針座位移平臺的一些關鍵特性和功能:
1. **高精度定位**:探針座位移平臺通常配備高分辨率的定位系統(tǒng),可以實現(xiàn)微米級甚至納米級的位移控制。
2. **多軸運動**:大多數(shù)探針座位移平臺支持多軸運動(如X、Y、Z軸),以便在三維空間中靈活移動探針,實現(xiàn)復雜的測量任務。
3. **實時控制**:現(xiàn)代探針座位移平臺通常與計算機軟件相結合,可以實現(xiàn)實時的控制和數(shù)據(jù)采集,方便操作人員進行實時監(jiān)測和調(diào)整。
4. **穩(wěn)定性**:平臺的設計通??紤]到振動和熱變形等因素,以確保在長時間操作中的穩(wěn)定性和重復性。
5. **自動化能力**:許多探針座位移平臺支持自動化操作,可以與自動測試設備結合,進行批量測試。
6. **應用廣泛**:探針座位移平臺廣泛應用于電氣測試、失效分析、材料特性評估等領域,能夠有效提高測量效率和準確性。
在選擇探針座位移平臺時,用戶需要考慮其技術參數(shù)、使用場景以及與現(xiàn)有設備的兼容性等因素。
探針臺卡盤(probe station chuck)是用于半導體測試和材料研究的重要設備,其特點包括:
1. **高精度**:探針臺卡盤通常具有高精度的定位能力,能夠確保探針與測試樣品之間的對接,從而提高測試的準確性。
2. **溫控能力**:許多探針臺卡盤配備有溫度控制系統(tǒng),可以在升溫或降溫的情況下進行測試,幫助研究人員觀察材料在不同溫度下的性能變化。
3. **真空功能**:某些探針臺卡盤具有真空夾緊功能,可以確保樣品在測試過程中固定穩(wěn)定,減少外部干擾。
4. **兼容性強**:探針臺卡盤通常設計為兼容多種類型的測試探針和測試儀器,方便用戶進行不同類型的實驗。
5. **靈活性**:探針臺卡盤可以適應不同尺寸和形狀的樣品,提供多種夾持方式,以滿足不同測試需求。
6. **性能**:針對信號測試的需求,一些探針臺卡盤具備良好的性能,能夠有效降低信號衰減和反射。
7. **用戶友好的操作界面**:現(xiàn)代探針臺常配備直觀的控制系統(tǒng),便于用戶對設備進行調(diào)整和設置。
8. **耐用性**:探針臺卡盤通常采用量材料制造,以確保設備的耐久性和穩(wěn)定性,在復雜環(huán)境下也能長期使用。
綜合以上特點,探針臺卡盤在半導體測試、材料研究等領域中扮演著關鍵角色,極大地推動了相關技術的發(fā)展。

探針臺卡盤(Probing Station Chuck)在半導體測試和研究中具有重要功能。它的主要功能包括:
1. **樣品固定**:探針臺卡盤能夠穩(wěn)固地固定待測試的半導體芯片或其他樣本,確保在測試過程中樣品不發(fā)生移動。
2. **定位**:通過高精度的微調(diào)機制,卡盤可以實現(xiàn)樣品的定位,以便于探針與樣品上的特定點進行接觸。
3. **溫度控制**:一些的探針臺卡盤配備了溫度控制功能,可以在不同的溫度條件下進行測試,以研究溫度對電性能的影響。
4. **電氣連接**:卡盤通常與探針陣列一起工作,通過探針與樣品接觸,實現(xiàn)電氣信號的傳輸,允許測試電性能參數(shù)。
5. **兼容性**:探針臺卡盤設計通常具有良好的兼容性,可以與不同類型和尺寸的樣本以及探針頭配合使用。
6. **環(huán)境控制**:一些探針臺卡盤具備氣氛控制功能,可以在特定氣氛(如氮氣或真空環(huán)境)中進行測試,以降低氧化和其他環(huán)境影響。
總的來說,探針臺卡盤在半導體研發(fā)和制造過程中扮演著至關重要的角色,它不僅提高了測試的性,還為研究提供了的實驗條件。

微型高低溫真空探針臺是一種重要的實驗設備,廣泛應用于半導體物理、材料科學和納米技術等領域。其主要功能包括:
1. **溫度控制**:能夠在極低(如-196°C,液氮溫度)到極高(如500°C或更高)溫度范圍內(nèi)控制樣品的溫度。這對于研究材料在不同溫度下的性能和行為至關重要。
2. **真空環(huán)境**:探針臺可以在真空或低氣壓環(huán)境中工作,以減少氧化、污染和其他外部因素對實驗結果的影響。這對于敏感材料或納米結構的測試尤為重要。
3. **電學測試**:探針臺通常配備高精度的探針,可以用于對樣品進行電性測試,如電導率、霍爾效應等。這些測量可以幫助研究材料的電學特性。
4. **表面和界面分析**:可以研究薄膜、界面和材料表面的電性和熱性特性,獲取關于材料結構和性能的重要信息。
5. **自動化和集成**:現(xiàn)代探針臺常配備有自動化系統(tǒng),可以實現(xiàn)高通量測試,提高實驗效率。此外,它們往往可以與其他表征技術(如AFM、SEM等)集成使用,以獲得更全面的材料性能分析。
6. **多功能性**:一些微型高低溫真空探針臺提供多種功能,可以進行不同類型的測量(如電學、熱學、光學等),滿足科研人員的多樣化需求。
這種設備的綜合功能使其成為微電子器件、量子材料和其它高科技領域?qū)嶒炑芯恐械墓ぞ摺?br/>

真空探針臺是一種用于微電子器件測試與研究的精密儀器,其主要功能包括:
1. **電學測試**:能夠?qū)Π雽w器件進行電性能測試,如IV(電流-電壓)特性測試、CV(電容-電壓)特性測試等。
2. **高真空環(huán)境**:提供高真空或真空環(huán)境,減少氣體分子對測試結果的干擾,特別是在處理空氣敏感材料或量子特性研究時尤為重要。
3. **微觀定位**:由于其高精度的定位功能,能夠?qū)ξ⑿〗Y構進行接觸和掃描,適用于納米尺度設備的測試。
4. **冷熱測試**:部分真空探針臺配備溫控系統(tǒng),可以在低溫或高溫條件下進行測試,以研究材料和器件在不同溫度下的特性。
5. **材料表征**:能夠?qū)Ρ∧?、納米材料等進行表征,分析其電學性質(zhì)、表面狀態(tài)等。
6. **集成化測試**:可以與其他儀器(如掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡等)聯(lián)用,進行更深入的材料或器件分析。
總之,真空探針臺是半導體研究、材料科學等領域中的重要設備。
探針座位移平臺主要用于電子元器件、半導體器件以及其他微電子設備的測試和研發(fā)。其適用范圍包括但不限于以下幾個方面:
1. **半導體測試**:對芯片的電氣特性進行測試,包括晶圓級測試(Wafer Testing)和封裝測試(Package Testing)。
2. **微電子器件研發(fā)**:在新產(chǎn)品開發(fā)過程中,對微小器件的電氣和物理特性進行測量。
3. **實驗室研究**:用于高校、研究機構的材料科學、物理學等領域的實驗。
4. **通信器件測試**:用于測試通信相關的IC(集成電路)和器件。
5. **自動化生產(chǎn)線**:在自動化測試設備中,實現(xiàn)率的在線測試和監(jiān)控。
6. **設備測試**:用于一些微小設備的性能測試。
探針座位移平臺的設計與制造通??紤]的定位和穩(wěn)定性,以便能夠滿足高精度測量的需求。
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