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唐山微型高低溫真空探針臺
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產(chǎn)品描述

溫度范圍零下180~550℃ 變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控 溫度分辨率及穩(wěn)定性± 0.1℃ 控溫方式PID 溫度傳感器PT100 溫度傳感器數(shù)量2 致冷方式液氮(泵控制) 探針數(shù)量4(可增加) 探針材質(zhì)紫銅鍍金 測試通道4 載樣臺材質(zhì)及尺寸銀質(zhì),35*35mm(以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)) 冷熱臺尺寸160*150*29mm(以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)) 實(shí)驗環(huán)境可抽真空,可充入保護(hù)氣氛(氮?dú)猓?,配水冷接?/span>
探針臺卡盤(Prober chuck)是半導(dǎo)體測試和測量設(shè)備中常用的一種組件,主要用于在測試過程中夾持和定位待測芯片或晶圓。探針臺通常用于集成電路(IC)的電性能測試,其主要功能包括:
1. **夾持**:確保芯片在測試時穩(wěn)定不動,避免因震動或移動導(dǎo)致測量誤差。
2. **熱管理**:某些探針臺卡盤設(shè)計中考慮了熱管理功能,可以有效散熱,以保證測試過程中芯片性能的一致性和準(zhǔn)確性。
3. **高精度定位**:支持微米級別的高精度定位,以便探針能夠接觸到芯片上的測試點(diǎn)。
4. **多功能性**:一些的探針臺卡盤可以支持多種測試模式,包括直流測試、交流測試、測試等。
5. **集成化設(shè)計**:現(xiàn)代探針臺卡盤往往與其他測試設(shè)備,如信號發(fā)生器、示波器等,進(jìn)行集成,以提高測試效率。
在選擇探針臺卡盤時,需要考慮待測器件的類型、尺寸,所需的測試精度以及其他特定要求。
探針臺(Probe Station)是一種用于半導(dǎo)體和微電子測試的設(shè)備,主要用于在實(shí)驗室環(huán)境中對芯片或材料進(jìn)行電學(xué)性能測試。它的主要功能包括:
1. **電氣測試**:探針臺配備有探針,可以直接接觸到芯片上的電氣接點(diǎn),進(jìn)行電性能測試,比如電流、電壓、阻抗等。
2. **溫度控制**:許多探針臺具有溫度控制功能,可以在高溫或低溫下進(jìn)行測試,以評估材料或器件在不同溫度下的特性。
3. **真空環(huán)境**:某些探針臺可以在真空環(huán)境下操作,以減少空氣對測試結(jié)果的影響,尤其是在某些敏感實(shí)驗中。
4. **圖像捕捉與分析**:探針臺通常配備有顯微鏡,可以對芯片進(jìn)行觀察,幫助技術(shù)人員準(zhǔn)確定位探針和分析測試結(jié)果。
5. **自動化測試**:一些探針臺能夠與計算機(jī)系統(tǒng)配合,實(shí)現(xiàn)自動化操作和數(shù)據(jù)采集,提高測試效率和準(zhǔn)確性。
6. **多功能擴(kuò)展**:探針臺可以與其他設(shè)備(如信號發(fā)生器、示波器等)聯(lián)動,進(jìn)行更復(fù)雜的電氣測試和分析。
探針臺廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、電子工程等領(lǐng)域,是研究和開發(fā)新型電子元件的重要工具。
唐山微型高低溫真空探針臺
光學(xué)探針臺是一種高精度的實(shí)驗設(shè)備,主要用于表征材料的光學(xué)性能和研究微觀結(jié)構(gòu)。以下是光學(xué)探針臺的主要特點(diǎn):
1. **高精度定位**:光學(xué)探針臺通常具備高精度的運(yùn)動系統(tǒng),能夠在微米或納米級別上進(jìn)行樣品定位,以確保實(shí)驗結(jié)果的準(zhǔn)確性。
2. **多功能性**:很多光學(xué)探針臺可以支持多種測量方法,如反射、透射、熒光及拉曼光譜等,適用于不同的研究需求。
3. **環(huán)境控制**:有些光學(xué)探針臺配備有溫度、濕度、氣氛等環(huán)境控制系統(tǒng),能夠在特定條件下進(jìn)行實(shí)驗,適應(yīng)不同材料的測試要求。
4. **光學(xué)元件的集成**:探針臺通常集成有高性能的光學(xué)元件,如透鏡、濾光片和光源等,以提高光學(xué)測量的靈敏度和信噪比。
5. **圖像采集與分析**:許多光學(xué)探針臺具有圖像采集功能,可以實(shí)時觀察樣品表面、形貌及其他特征,并與測量數(shù)據(jù)結(jié)合進(jìn)行分析。
6. **模塊化設(shè)計**:一些探針臺是模塊化的,可以根據(jù)實(shí)驗需要進(jìn)行升級和擴(kuò)展,適應(yīng)不同的研究需求。
7. **用戶友好的操作界面**:現(xiàn)代的光學(xué)探針臺通常配備友好的軟件界面,使得用戶可以輕松設(shè)置實(shí)驗參數(shù),進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和分析。
8. **適用性廣**:廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域,在基礎(chǔ)研究和工業(yè)應(yīng)用中都具有重要價值。
光學(xué)探針臺因其高度和多功能性,被廣泛用于科研與工業(yè)領(lǐng)域的光學(xué)測量與分析任務(wù)。
唐山微型高低溫真空探針臺
探針臺卡盤(probe station chuck)是用于半導(dǎo)體測試和材料研究的重要設(shè)備,其特點(diǎn)包括:
1. **高精度**:探針臺卡盤通常具有高精度的定位能力,能夠確保探針與測試樣品之間的對接,從而提高測試的準(zhǔn)確性。
2. **溫控能力**:許多探針臺卡盤配備有溫度控制系統(tǒng),可以在升溫或降溫的情況下進(jìn)行測試,幫助研究人員觀察材料在不同溫度下的性能變化。
3. **真空功能**:某些探針臺卡盤具有真空夾緊功能,可以確保樣品在測試過程中固定穩(wěn)定,減少外部干擾。
4. **兼容性強(qiáng)**:探針臺卡盤通常設(shè)計為兼容多種類型的測試探針和測試儀器,方便用戶進(jìn)行不同類型的實(shí)驗。
5. **靈活性**:探針臺卡盤可以適應(yīng)不同尺寸和形狀的樣品,提供多種夾持方式,以滿足不同測試需求。
6. **性能**:針對信號測試的需求,一些探針臺卡盤具備良好的性能,能夠有效降低信號衰減和反射。
7. **用戶友好的操作界面**:現(xiàn)代探針臺常配備直觀的控制系統(tǒng),便于用戶對設(shè)備進(jìn)行調(diào)整和設(shè)置。
8. **耐用性**:探針臺卡盤通常采用量材料制造,以確保設(shè)備的耐久性和穩(wěn)定性,在復(fù)雜環(huán)境下也能長期使用。
綜合以上特點(diǎn),探針臺卡盤在半導(dǎo)體測試、材料研究等領(lǐng)域中扮演著關(guān)鍵角色,極大地推動了相關(guān)技術(shù)的發(fā)展。
唐山微型高低溫真空探針臺
高低溫真空探針臺是一種用于材料和半導(dǎo)體器件測試的設(shè)備,能夠在極端溫度和真空環(huán)境下進(jìn)行電氣特性測量。其主要功能包括:
1. **溫度控制**:能夠在廣泛的溫度范圍內(nèi)(通常從低于零度到幾百度攝氏)控制樣品的溫度,便于研究材料在不同溫度下的性能變化。
2. **真空環(huán)境**:提供低壓真空環(huán)境,以減少氣體分子對測量結(jié)果的影響,尤其是在材料表面或界面反應(yīng)的研究中。
3. **電氣測試**:可以連接測試儀器(如示波器、源測量單元等)進(jìn)行電流、電壓等電學(xué)特性的測量。
4. **多種探針配置**:可以靈活配置探針的數(shù)量和類型,以適應(yīng)不同的實(shí)驗需求,如單點(diǎn)探測或多點(diǎn)測量。
5. **樣品放置**:支持多種類型的樣品放置方式,如晶圓、薄膜、納米結(jié)構(gòu)等,以開展多樣化的實(shí)驗。
6. **數(shù)據(jù)采集與分析**:配合相關(guān)軟件,可以進(jìn)行實(shí)時數(shù)據(jù)采集和后續(xù)分析,幫助科研人員深入理解材料性能。
高低溫真空探針臺廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、物理、材料科學(xué)等領(lǐng)域的研究和開發(fā)中,尤其是在新材料的開發(fā)和半導(dǎo)體器件的性能測試方面具有重要意義。
探針臺卡盤廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè),尤其是在集成電路(IC)測試和微電子設(shè)備的研發(fā)過程中。其適用范圍主要包括以下幾個方面:
1. **半導(dǎo)體測試**:用于對晶圓或封裝好的芯片進(jìn)行電氣測試,驗證其性能和功能。
2. **光電器件測量**:適用于光電傳感器、激光器等器件的測試,評估其光電性能。
3. **微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)**:在MEMS器件的研發(fā)與測試中,探針臺卡盤能夠幫助實(shí)現(xiàn)高精度的電氣連接和測試。
4. **材料研究**:用于研究新材料的電學(xué)性質(zhì),評估其在電子器件中的應(yīng)用潛力。
5. **教育與研發(fā)**:在實(shí)驗室和高等院校中,用于教學(xué)和科研活動,幫助學(xué)生和研究人員進(jìn)行基礎(chǔ)實(shí)驗和技術(shù)開發(fā)。
探針臺卡盤的設(shè)計通常強(qiáng)調(diào)高精度和可調(diào)性,以適應(yīng)不同尺寸和類型的測試樣品,確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
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